成分分析
時間:2020-08-04 14:33:40    來源:安普檢測
異物分析
項目名稱:異物分析
檢測周期:5-7個工作日
檢測專線:181 2654 7679
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異物分析,是專門分析產品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進行之成分的技術。例如對表面嵌入異物、斑點、油狀物、噴霜等異常物質進行定性分析,藉此找尋污染源或配方不相容者,是改善產品最常用的分析方法之一。

 

應用范圍

針對產品上的表面污染物、析出物等異常物質,如產品表面的顆粒物、油狀物、霧狀物、斑點等。


表面異物分析項目

1.有機異物分析

2.無機異物分析

3.未知異物分析

4.產品異?,F象比對分析


主要分析方法

方法

應用范圍

紅外光譜法
FTIR

1.顯微FTIR, 僅需10um以上樣品即可測試
2.有機物成分分析 (400-4000cm-1

掃描電子顯微鏡和能量色散X射線譜法
SEM/EDS

1.固體
2.元素分析/元素分布 (B-~U) /形貌觀察

俄歇電子能譜分析儀法
AES

極表面 (0-3nm) 分析設備

X射線電子光能譜分析法
XPS

1.更精密的元素分析
2.元素價態, 存在形式分析

飛行時間?次離子質譜分析法
TOF-SIMS

ppm級別表面有機成分分析

動態?次離子質譜分析法
D-SIMS

ppb級表面及芯部成分分析

氣相色譜質譜聯用儀分析法
GC-MS

1.固體/液體
2.易揮發組分測試


分析步驟

1、表面觀察:主要采用光學顯微鏡觀察(OM)觀察異物在表面還是嵌入在基體材料內。

2、異物物質種類判斷:主要采用傅里葉變換紅外光譜儀(FTIR)、顯微紅外(M)判斷異物主要是有機物還是無機物。

3、有機物分析手段:可能涉及Py-GCMS、萃取GC-MS、MS等。

4、無機物分析手段(主要是元素分析):主要采用掃描電鏡能譜儀(SEM-EDS)等。


測試儀器

GC-MC.jpg
電子掃描顯微鏡.jpg紅外光譜.jpg
XPS.jpg俄歇電子能譜分析儀.jpg原子吸收分光光度計.JPG


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